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Datos del producto:
Pago y Envío Términos:
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| Clase de la exactitud: | 0,05 | Uso: | Combinación de la prueba unitaria |
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| Gama convencional del voltaje: | 0-120V | Prueba actual convencional: | 0-20A |
| Prueba de la frecuencia: | 45-65HZ | Exactitud: | 0.002HZ |
| Exactitud del poder activo: | 0,05% | Poder reactivo: | 0,1% |
| Resaltar: | 0.05% Substation Test Equipment,05% equipos de prueba de la subestación,Equipo de prueba de la subestación 0.002HZ |
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Combinación de serie del sistema de prueba unitaria MUE1
Prueba elegante de Digitaces CT/VT del equipo de prueba de la subestación que combina el probador de la unidad
Compatible con IEC61850-9-1, IEC61850-9-2, IEC61850-9-2LE, protocolo IEC60044-FT3
Índice técnico
| Clase de la exactitud | 0,05 |
| Prueba convencional del voltaje | |
| Gama | 0-120V, gama de medición 100V, 100/√3V |
| Gama y exactitud ajustables | 20%-150%, 0,05% |
| Prueba actual convencional | |
| Gama | 0-20A, gama de medición 5A y 1A |
| Gama y exactitud ajustables | 1%-120% |
| Prueba de la frecuencia | |
| Gama | 45-65HZ |
| Exactitud | 0.002HZ |
| Exactitud de la prueba de la energía entrada | |
| Poder activo | 0,05 clases |
| Poder reactivo | 0,1 clases |
| Interfaz de fibra óptica | |
| Interfaz de fibra óptica del ST de 1 grupo | |
| Envío de poder | >-6dBm |
| Óptico reciba la sensibilidad | -38dBm |
| Señal de sincronización | |
| Entrada y salida ópticas de la sincronización | 2Nos |
| Salida óptica de la sincronización IRIG-B (DC) | 1No |
| Exactitud del tiempo de la salida de la sincronización | mejor que 100ns |
| Fuente de alimentación | |
| Voltaje entrado | El AC220V±10%, 50/60Hz |
| Consumo de energía | <20w> |
| Dimensión y peso: 360x400x160m m, 7.5KGS | |
Característica
1) Adopción de fuente de energía estándar trifásica de la alta exactitud, colector de datos del A/D de la alta exactitud, sincronización
unidad de reloj de tiempo, estándar básico del muestreo de la CA y unidad de prueba de MU
2) Operación por el software de la PC
3) Adopción de algoritmo de alto nivel de la sincronización y de 512times sobre tecnología de muestreo
4) Adopción de la lengua de LabView y de la tecnología virtual del instrumento, HMI y conveniente amistosos para la operación
5) Con pequeña salida de la señal de la simulación, realice la salida múltiple de la señal del voltaje del sinewave de la frecuencia
gama 0-4V (RMS)
6) Error de la exactitud y prueba de funcionamiento de la sincronización y de la comunicación de combinar la unidad con la colección de
canales múltiples digitales o entrada análoga
7) Prueba del error de la exactitud de combinar la unidad con la entrada análoga de la colección con el VT convencional y el CT
8) Test de precisión de combinar la unidad con la entrada digital digital de CT/VT
9) Prueba del error de la exactitud del VT digital del CT y calibración del valor análogo
10) Prueba del grado de la dispersión de muestrear el mensaje
11) Prueba de la integridad de muestrear el mensaje
12) Prueba del error de comparación de tiempo de combinar la unidad
13) Tiempo que guarda la prueba del error de combinar la unidad
14) Muestreo de la prueba del tiempo de respuesta
15) Análisis completo del mensaje del marco
Prueba de protocolo: ASDU, puntos de muestreo, no. serial, valoró de retraso de tiempo, APPID, SVID, dirección de la bujía métrica, situación de la sincronización
Análisis completo del marco, análisis la forma de onda de todos los channles, muestreando valor y datos originales del mensaje
16) Puede calibrar la unidad la combinación con frecuencia o influencia armónica
17) Datos de error del punto de prueba, convenientes de registro para la investigación de datos, la tienda, y la impresión.
Persona de Contacto: Mr. Tony Han
Teléfono: 86-15237157117
Fax: 86-371-55692730
